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德國Elektrophysik測厚儀

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Elektrophysik上海總代理

Elektrophysik上?？偞恚篍PK代理,EPK授權(quán)代理，Elektrophysik中國區(qū)代理，Elektrophysik代理供應(yīng)商

功能

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)	-	1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值	-	-	√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間	-	√	√	√
其他功能
透過涂層進行校準(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校準	√	√	√	√
利用計算機進行基礎(chǔ)校準	√	√	√	√
補償一個常數(shù)(Offset)	-	-	√	√
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能	-	√	√	√
保護并鎖定校準設(shè)置	√	√	√	√
更換電池是存儲數(shù)值	√	√	√	√
設(shè)置極限值	-	-	√	√
公英制轉(zhuǎn)換	√	√	√	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值	-	-	√	√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	-	-	√	√
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送	√	√	√	√
組內(nèi)單值延遲顯示	-	√	√	√
連續(xù)測量模式中顯示zui小值	√	√	√	√

所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。

MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)

　　所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
　　F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
　　N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
　　FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑	zui小測量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸 (mm)
磁感應(yīng) 法	F05	0-500um	0.1um	±(1%±0.7um)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62
	F1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F3	0-3000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F10	0-10mm	5um	±(1%±10um)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46
	F20	0-20mm	10um	±(1%±10um)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66
	F50	0-50mm	10um	±(3%±50um)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70
兩用	FN1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
	FN1.6P	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面	30mm	F0.5mm/N50um	φ21x89
	FN2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
電渦流法	N02	0-200um	0.1um	±(1%±0.5um)	1/10mm	2mm	50um	φ16x70
	N.08Cr	0-80um	0.1um	±(1%±1um)	2.5mm	2mm	100um	φ15x62
	N1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	2mm	50um	φ15x62
	N1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	50um	φ15x62
	N2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N10	0-10mm	10um	±(1%±25um)	25/100mm	50mm	50um	φ60x50
	N20	0-20mm	10um	±(1%±50um)	25/100mm	70mm	50um	φ65x75
	N100	0-100mm	100um	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50um	φ126x155
	CN02	10-200um	0.2um	±(1%±1um)	平面	7mm	無限制	φ17x80

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。